障害分析：SMART機能について

フラッシュデータストレージデバイスがどれほど頑丈で堅牢であっても、最終的には故障します。予想される障害が発生するまでの時間は、使用温度や保管温度、データがプログラムおよび消去される頻度など、多くの要因に依存します。アプリケーションに非常に頑丈なフラッシュドライブを選択した場合でも、障害の発生時期を予測し、障害が発生する前にドライブまたはカードを交換できるように、適切な障害分析を実施することが重要です。

不良解析の潜在的な結果

適切な障害分析を行わないと、SSDやその他のフラッシュストレージデバイスが予期せずに失敗する可能性があります。これは、ユーザーに深刻な結果をもたらす可能性があります。たとえば、運輸業界では、ミッションクリティカルなデータの予期しない障害により、ドライバーが事故を防ぐために依存する安全機能が損なわれる可能性があります。

 

製造の自動化では、予期しないデータデバイスの障害が機械の誤動作を引き起こし、コストのかかる破壊的な生産停止につながる可能性があります。ゲーム業界でも同様の問題が見られます。コンソール障害に対する顧客の不満は、デバイスを提供している会社にあまり反映されていない可能性があります。解決策は、フラッシュストレージデバイスでSMART機能を使用することにより、障害分析を改善することです。

SMARTの定義

SMARTはSelf-Monitoring、Analysis、およびReporting Technologyの略です。基本的に、この機能は自己診断機能を実行します。これは、プラットフォームの基本入出力システム（BIOS）で有効にできる自動化された機能です。 SMART機能はバックグラウンドで実行され、データを収集して潜在的な問題を検出します。次に、その情報をBIOSに送信します。 BIOSは、ストレージデバイスが差し迫った障害の危険にさらされていると判断した場合、ユーザーに警告メッセージを送信します。

SMARTのカスタマイズオプション

SMART機能の特定のコンポーネントは、エンジニアやOEMのニーズに合わせてカスタマイズできます。たとえば、特定のプロジェクトが予想される障害のかなり前にデバイス障害の警告を必要とする場合、パラメーターを調整して、障害の発生が予想される時間よりはるかに前にドライブまたはカードを交換できるようにすることができます。

 

Delkinは、SMART機能を幅広いフラッシュストレージデバイスに組み込んでいます。これらには、プロジェクトエンジニアまたはOEMの正確な仕様に合わせてカスタマイズ可能なSSDおよびCompactFlash（CF）カードが含まれます。デルキンのカスタマーアプリケーションチームに連絡して、アプリケーションに適したフラッシュデータストレージデバイスの選択について話し合ってください。